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半自動(dòng)探針臺(tái)是一種廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造和檢測(cè)的設(shè)備，它的主要作用是通過(guò)對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行準(zhǔn)確的探針測(cè)試，以確保其質(zhì)量和性能符合要求。一、主要由以下幾個(gè)部分組成：探針系統(tǒng)：探針系統(tǒng)是核心部分，它包括一組探針，這些探針可以準(zhǔn)確地與半導(dǎo)體芯片上的電極接觸，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的電氣性能進(jìn)行測(cè)試。顯微鏡系統(tǒng)：顯微鏡系統(tǒng)用于觀察和定位半導(dǎo)體芯片，以確保探針準(zhǔn)確地與芯片上的電極接觸。X-Y-Z運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)：X-Y-Z運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)用于將探針系統(tǒng)移動(dòng)到測(cè)試位置，并控制探針在半導(dǎo)體芯片上的移動(dòng)?？刂葡到y(tǒng)：控制...

高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于進(jìn)行溫度相關(guān)測(cè)試和可靠性驗(yàn)證的關(guān)鍵設(shè)備。本文將介紹該設(shè)備的作用、原理以及在科研和工業(yè)領(lǐng)域中的重要性。在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中，溫度對(duì)于材料和器件的性能具有重要影響。高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)提供了一個(gè)控制溫度環(huán)境的平臺(tái)，使得研究人員和工程師能夠?qū)Σ牧稀㈦娮釉冗M(jìn)行精確的溫度相關(guān)測(cè)試。這些測(cè)試可以包括電特性測(cè)量、熱傳導(dǎo)性能評(píng)估、溫度應(yīng)力測(cè)試等。該設(shè)備的基本原理是通過(guò)加熱和冷卻系統(tǒng)控制探針臺(tái)上的溫度，并通過(guò)測(cè)量和監(jiān)控溫度變化來(lái)實(shí)現(xiàn)精確的控制。半自動(dòng)探針臺(tái)通常配...

MPI探針臺(tái)是一種專(zhuān)用設(shè)備，用于進(jìn)行磁粉無(wú)損檢測(cè)。磁粉無(wú)損檢測(cè)是一種常用的材料和零部件質(zhì)量檢測(cè)方法，通過(guò)利用磁場(chǎng)和磁粉的相互作用，檢測(cè)材料中的表面和近表面缺陷。結(jié)合了先進(jìn)的磁粉無(wú)損檢測(cè)技術(shù)和高效的自動(dòng)化操作，提供了一種快速、準(zhǔn)確的無(wú)損檢測(cè)解決方案。工作原理是利用磁場(chǎng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行磁化，然后施加磁粉，通過(guò)觀察磁粉在缺陷處的聚集情況來(lái)判斷是否存在缺陷。探針臺(tái)通過(guò)控制磁場(chǎng)的強(qiáng)度和方向，以及磁粉的施加方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物體的全面檢測(cè)。同時(shí)，探針臺(tái)配備了高分辨率的圖像采集系統(tǒng)和圖像處理軟...

射頻探針臺(tái)是一種用于測(cè)試和測(cè)量射頻電路性能的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于無(wú)線通信、雷達(dá)系統(tǒng)、衛(wèi)星通信等領(lǐng)域。它由各種射頻測(cè)試設(shè)備組成，可以提供精確的測(cè)量結(jié)果和分析數(shù)據(jù)，幫助工程師評(píng)估和改進(jìn)電路設(shè)計(jì)。1、通常包括一臺(tái)高頻信號(hào)發(fā)生器。這個(gè)發(fā)生器可以生成穩(wěn)定而準(zhǔn)確的射頻信號(hào)，并提供可調(diào)節(jié)的頻率、幅度和調(diào)制方式，以滿足不同測(cè)試需求。高頻信號(hào)發(fā)生器還可以用于模擬實(shí)際工作環(huán)境中的射頻信號(hào)，以驗(yàn)證電路在不同條件下的性能。2、還配備了一臺(tái)射頻功率計(jì)。射頻功率計(jì)用于測(cè)量輸出信號(hào)的功率水平，以確保電路在規(guī)定...

一、探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、背景介紹：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)，x-y向工作臺(tái)都是其核心的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。本文僅對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹。三、特點(diǎn)分析...

一、半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、維護(hù)與保養(yǎng)：(1)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。(2)由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作...

射頻探針臺(tái)是一種用于電磁兼容性測(cè)試的設(shè)備，它通過(guò)測(cè)量電子設(shè)備或系統(tǒng)的輻射和傳導(dǎo)干擾水平，評(píng)估其對(duì)其他設(shè)備或系統(tǒng)的影響。廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、通信設(shè)備、軍事設(shè)備、航空航天設(shè)備等領(lǐng)域。它們可以用于測(cè)量各種設(shè)備或系統(tǒng)的輻射和傳導(dǎo)干擾水平，評(píng)估其對(duì)其他設(shè)備或系統(tǒng)的影響。在電子產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)和測(cè)試過(guò)程中，也扮演著重要的角色。一、工作原理是利用探針吸收電磁能量，將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)輸出，從而測(cè)量電磁輻射和傳導(dǎo)干擾水平。在測(cè)試時(shí)，將探針?lè)胖迷诒粶y(cè)設(shè)備或系統(tǒng)的表面，然后通過(guò)連接測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)量，從...

一、應(yīng)用原理：(1)探針卡(probecard)探針卡是自動(dòng)測(cè)試機(jī)與待測(cè)器件(DUT)之間的接口,在電學(xué)測(cè)試中通過(guò)探針傳遞進(jìn)出wafer的電流。(2)探針臺(tái)(prober)因此測(cè)試對(duì)于檢驗(yàn)芯片的功能性來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)非常重要的工作,硅片測(cè)試能夠分辨一個(gè)好的芯片和一個(gè)有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導(dǎo)通狀態(tài)下漏源之間的導(dǎo)通電阻。二、發(fā)展背景介紹：(1)半導(dǎo)體檢測(cè)貫穿半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝三大流程。半導(dǎo)體制造工藝十分復(fù)雜，包含成百上千道工序，每一道出錯(cuò)都可能影響芯片功效。為了提...